Разработки новых материалов и современное материаловедение предъявляют все возрастающие требования к методам измерений характеристик наноструктур и композитных материалов в части повышения разрешающей способности и производительности.

В значительной мере это относится и к методам атомно-силовой микроскопии, незаменимому средству исследований и характеризации материалов на нанометровом уровне.

Проводимые ООО «НТ-МДТ» исследования и разработки сосредоточены в направлениях совершенствования систем интеграции АСМ с оптической микроскопией/спектроскопией, методов характеризации наномеханических свойств материалов на нанометровом уровне и повышения производительности измерений. Эти разработки проводятся в рамках трех проектов – ИК, HD++, Вега.

Направление ИК

Интеграция приборов и методик атомно-силовой микроскопии, оптической микроскопии и ИК спектроскопии с пространственным «суперразрешением» (10-50 нм).

Направление HD++

Скоростные АСМ методики неразрушающего количественного анализа механических свойств поверхности образцов.

Направление Вега

Скоростные  АСМ измерительные головки для исследований новых наноструктурированных композитных материалов и наноструктур.